Arrested: প্রতিযোগিতামূলক পরীক্ষায় ইলেকট্রনিক ডিভাইস ব্যবহার, গ্রেফতার ১৭ জন পরীক্ষার্থী
দেরাদুনে প্রতিযোগিতামূলক পরীক্ষার সময় ইলেকট্রনিক ডিভাইস উদ্ধার।
নয়াদিল্লি: রবিবার কেন্দ্রীয় মাধ্যমিক শিক্ষা বোর্ড (সিবিএসই) পরিচালিত প্রতিযোগিতামূলক পরীক্ষার (Competitive Exams) সময় দুটি ভিন্ন কেন্দ্র থেকে সন্দেহজনক ইলেকট্রনিক ডিভাইস উদ্ধার করা হয়েছে এবং ১৭ জন পরীক্ষার্থীকে গ্রেফতার করা হয়েছে।
সোশ্যাল বালুনি পাবলিক স্কুলের অধ্যক্ষ এবং সেন্টার সুপারিনটেনডেন্ট পঙ্কজ নৌটিয়াল প্যাটেল নগর থানায় একটি ঘটনার কথা জানিয়েছেন। এনভিএস/জেএসএ পরীক্ষার প্রথম শিফটের সময়, একজন পরীক্ষার্থীর জুতার মধ্যে লুকানো একটি ইলেকট্রনিক ডিভাইস পাওয়া যায়। আরও পড়ুন: Mumbai: পুরোনো শত্রুতার জেরে দুই প্রতিবেশীর মধ্যে তুমুল সংঘর্ষ, ধারালো অস্ত্রের কোপে মৃত তিন, তদন্তে নেমেছে মুম্বই পুলিশ
পরীক্ষার দ্বিতীয় শিফটে, আরও সাতজন পরীক্ষার্থী ইলেকট্রনিক ডিভাইস সহ ধরা পড়ে। নৌটিয়ালের অভিযোগের পর, সংশ্লিষ্ট ধারায় দুটি এফআইআর দায়ের করা হয়।